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Charakterisierung der Eigenschaften von Holzoberflächen in der Mikro- bis Nanometerskala mittels AFM

Lokalisierte Oberflächeneigenschaften sind sehr bedeutend für technologische Entwicklungen in Themenbereichen wie Adhäsion, Schutzbeschichtungen, Oberflächenfunktionalisierungen etc. Mittels Rasterkraftmikroskopie (AFM) ist es neben der Bestimmung wahrer 3D Oberflächentopografien in Nanometerauflösung zusätzlich möglich, lokalisierte Oberflächenkräfte zu messen. Das Ziel des Projekts ist eine detaillierte Analyse der Oberflächeneigenschaften verschiedener Komponenten der zellulären Holzstruktur und ein tieferes Verständnis des Benetzungsverhaltens sowie des Alterungsverhaltens von Holz/Adhesiv-Grenzflächen.

Abb.1: Oberflächentopographie einer Holzschnittfläche (Fichte, Spätholz, Radialschnitt) mittels AFM
Abb.2: Grenzfläche Holz/Klebstoff, dargestellt mit AFM
Abb.3: Adhäsionskraftverteilung mit –OH und –CH3 funktionalisierten Spitzen.